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    WGJSTD-B/B1型介質損耗及介電常數測試儀
    WGJSTD-B/B1型介質損耗及介電常數測試儀

    高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置(夾具)、WGJSTD-B/B1型介質損耗及介電常數測試儀、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型電感器組成,它依據國標GB/T1409-2006、美標ASTMD150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的Z佳解決方案。

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    S916介質損耗及介電常數測試裝置
    S916介質損耗及介電常數測試裝置

    S916介質損耗及介電常數測試裝置與本公司生產的各款WGJSTD系列介質損耗及介電常數測試儀配套,可用于測量絕緣材料的介電常數和介質損耗系數(損耗角正切值)。S916介質損耗測試裝置是S914的換代產品,它采用了數顯微測量裝置,因而讀數方便,數據。

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    S914介質損耗及介電常數測試裝置
    S914介質損耗及介電常數測試裝置

    S914介質損耗及介電常數測試裝置與本公司生產的各款WGJSTD系列介質損耗及介電常數測試儀配套,可用于測量絕緣材料的介電常數和介質損耗系數(損耗角正切值)。采用了千分微調方式測量裝置,數據。

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    WGJSTD-B1介質損耗及介電常數測試儀
    WGJSTD-B1介質損耗及介電常數測試儀

    WGJSTD-B1介質損耗及介電常數測試儀(以下簡稱B1測試儀)能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。

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